红外线焦平面阵列模组的性能参数量测方法及坏点侦测方法

摘要

明提供一种红外线焦平面阵列模组的性能参数量测方法，系撷取红外线焦平面阵列模组的高精度的连续数位影像，对该连续数位影像进行影像分割，再对各分割影像进行讯号传输函数、时间杂讯等效温度差、空间杂讯等效温度差、非均匀度及可操作率的性能参数分析，藉此提高量测红外线焦平面阵列模组之性能参数的精确度；另该坏点侦测方法系包含有增益值侦测法、偏移值侦测法、时间杂讯值侦测法与空间杂讯值侦测法，藉此可适用于两个以上之不同响应区块的红外线焦平面阵列模组，避免将不同响应之区块的像素视为坏点，而产生侦测错误的问题。

主权项

一种红外线焦平面阵列模组的性能参数量测方法，系以一红外线焦平面阵列模组连接一影像处理电路，该红外线焦平面阵列模组用以侦测一黑体辐射源，该影像处理电路系进行下列步骤： 撷取红外线焦平面阵列模组之高精度的连续数位影像； 对该连续数位影像进行影像分割； 对各分割影像进行多数性能参数分析：该等性能参数系以响应函数计算讯号传输函数、时间杂讯等效温度差、空间杂讯等效温度差、非均匀度及可操作率。