发明名称 |
基板处理装置 |
摘要 |
明旨在提供一种基板处理装置,对基板供给处理气体,以进行处理,其特征在于包含:电极,为对该处理气体供给电力,活化该处理气体,而沿该基板固持具之长度方向延伸设置;构造物,在排列有该基板之高度区域,沿该基板固持具之长度方向延伸设置于该反应容器内;及排气口,用来使该反应容器内真空排气;且该构造物,配置于:俯视观察该反应容器时,自该反应容器之中心部观察,朝该电极中最接近该构造物之部位之左方向或右方向分别远离40度以上之区域。 |
申请公布号 |
TW201600627 |
申请公布日期 |
2016.01.01 |
申请号 |
TW104109268 |
申请日期 |
2015.03.24 |
申请人 |
东京威力科创股份有限公司 |
发明人 |
福岛讲平;尾崎彻志 |
分类号 |
C23C16/44(2006.01);C23C16/455(2006.01);C23C16/458(2006.01);C23C16/50(2006.01);C23C16/52(2006.01) |
主分类号 |
C23C16/44(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
周良谋;周良吉 |
主权项 |
一种基板处理装置,于呈真空氛围之纵型之反应容器内,对「由基板固持具呈棚架状固持,直径在300mm以上之复数之半导体晶圆亦即基板」,供给处理气体,以进行处理,其特征在于包含: 电极,为对该处理气体供给电力以活化该处理气体,而沿该基板固持具之长度方向延伸设置; 构造物,在排列有该基板之高度区域,沿该基板固持具之长度方向延伸设置于该反应容器内;及 排气口,用来使该反应容器内真空排气;且 该构造物,配置于:俯视观察该反应容器时,自该反应容器之中心部观察,朝该电极中最接近该构造物之部位之左方向或右方向分别远离40度以上之区域。 |
地址 |
日本 |