| 摘要 |
Procédé de gestion du fonctionnement d'un composant logique (2) comportant un circuit de vote majoritaire (3) et un nombre impair de bascules (4 à 6) au moins égal à trois, le procédé comprenant : a) à la suite d'un mode de fonctionnement normal du composant, un placement du composant (2) dans un mode de test dans lequel : - on place une bascule (4) du composant logique (2) dans un mode test, - on injecte un signal de test (TI) dans l'entrée test (ti) de la bascule (4) testée, - on gèle l'état logique des autres bascules (5 et 6), et on analyse le signal de sortie de test (TQ), puis, b) à l'issue du test, un nouveau placement du composant (2) dans un mode de fonctionnement normal, le circuit de vote majoritaire (3) restaurant automatiquement la valeur du signal de sortie (Q) du composant (2) existant avant l'initiation du test. |
