| 发明名称 |
用于在介于一受测试装置与测试电子器件间之一应用空间中传送信号的结构 |
| 摘要 |
在介于一受测试装置(DUT)与测试电子器件间之一应用空间中传送信号之一实例性结构包括：一电路板，该电路板为介于测试电子器件与一受测试装置(DUT)间之一应用空间之部分；以及一同轴结构，该同轴结构系用以沿着介于该等测试电子器件与该DUT间之电气途径传递信号。该同轴结构包括至少由一回路线路部分环绕之一信号线路。
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| 申请公布号 |
TW201600869 |
申请公布日期 |
2016.01.01 |
| 申请号 |
TW104115546 |
申请日期 |
2015.05.15 |
| 申请人 |
泰瑞达公司 |
发明人 |
辛许艾摩 罗杰 亚伦 |
| 分类号 |
G01R31/28(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01) |
| 代理机构 |
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代理人 |
阎启泰;林景郁 |
| 主权项 |
一种设备，其包含：一电路板，其为介于测试电子器件与一受测试装置(DUT)间之一应用空间之部分；以及一同轴结构，其沿着介于该等测试电子器件与该DUT间之电气途径传递信号，该同轴结构包含一信号线路，至少由一回路线路部分环绕该信号线路。
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| 地址 |
美国 |
