发明名称 基板处理装置及半导体装置之制造方法
摘要 明的课题系提供一种基板处理装置及半导体装置之制造方法,其系以快速成膜速度形成致密且归因原料之杂质浓度低、电阻率低的导电性膜。 本发明之解决手段系一种基板处理装置,其具有:积层并收容复数片基板之处理室;供给第1处理气体于该处理室之第1处理气体供给系统;供给第2处理气体于该处理室之第2处理气体供给系统;及控制该第1处理气体供给系统及该第2处理气体供给系统之控制部,该基板处理装置系构成为:该第1处理气体供给系统及该第2处理气体供给系统之至少任一供给系统,具有沿着该基板之积层方向立设之形状相异之2支喷嘴,该控制部,系在以成膜速度不同的脉冲供给该第1处理气体及该第2处理气体于该处理室而形成膜于该基板时,从该形状相异之2支喷嘴各自供给该第1处理气体及该第2处理气体之至少任一气体。
申请公布号 TWI515328 申请公布日期 2016.01.01
申请号 TW100103230 申请日期 2011.01.28
申请人 日立国际电气股份有限公司 发明人 斋藤达之;境正宪;加我友纪直;横川贵史
分类号 C23C16/54(2006.01);C23C16/455(2006.01) 主分类号 C23C16/54(2006.01)
代理机构 代理人 何金涂;王彦评
主权项 一种基板处理装置,其具有:处理室,系积层并收容复数片基板;第1处理气体供给系统,系供给第1处理气体于该处理室;第2处理气体供给系统,系供给第2处理气体于该处理室;及控制部,系控制该第1处理气体供给系统及该第2处理气体供给系统,该基板处理装置系构成为:该第1处理气体供给系统及该第2处理气体供给系统之至少任一供给系统,具有沿着该基板之积层方向立设之形状相异的2支喷嘴,该控制部,系在以成膜速度不同的脉冲供给该第1处理气体及该第2处理气体于该处理室而形成膜于该基板时,从形状相异的2支喷嘴各自供给该第1处理气体及该第2处理气体之至少任一气体。
地址 日本