发明名称 |
基板处理装置及半导体装置之制造方法 |
摘要 |
明的课题系提供一种基板处理装置及半导体装置之制造方法,其系以快速成膜速度形成致密且归因原料之杂质浓度低、电阻率低的导电性膜。
本发明之解决手段系一种基板处理装置,其具有:积层并收容复数片基板之处理室;供给第1处理气体于该处理室之第1处理气体供给系统;供给第2处理气体于该处理室之第2处理气体供给系统;及控制该第1处理气体供给系统及该第2处理气体供给系统之控制部,该基板处理装置系构成为:该第1处理气体供给系统及该第2处理气体供给系统之至少任一供给系统,具有沿着该基板之积层方向立设之形状相异之2支喷嘴,该控制部,系在以成膜速度不同的脉冲供给该第1处理气体及该第2处理气体于该处理室而形成膜于该基板时,从该形状相异之2支喷嘴各自供给该第1处理气体及该第2处理气体之至少任一气体。
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申请公布号 |
TWI515328 |
申请公布日期 |
2016.01.01 |
申请号 |
TW100103230 |
申请日期 |
2011.01.28 |
申请人 |
日立国际电气股份有限公司 |
发明人 |
斋藤达之;境正宪;加我友纪直;横川贵史 |
分类号 |
C23C16/54(2006.01);C23C16/455(2006.01) |
主分类号 |
C23C16/54(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
何金涂;王彦评 |
主权项 |
一种基板处理装置,其具有:处理室,系积层并收容复数片基板;第1处理气体供给系统,系供给第1处理气体于该处理室;第2处理气体供给系统,系供给第2处理气体于该处理室;及控制部,系控制该第1处理气体供给系统及该第2处理气体供给系统,该基板处理装置系构成为:该第1处理气体供给系统及该第2处理气体供给系统之至少任一供给系统,具有沿着该基板之积层方向立设之形状相异的2支喷嘴,该控制部,系在以成膜速度不同的脉冲供给该第1处理气体及该第2处理气体于该处理室而形成膜于该基板时,从形状相异的2支喷嘴各自供给该第1处理气体及该第2处理气体之至少任一气体。
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地址 |
日本 |