发明名称 |
增加分栅快闪存储器控制栅高度的方法 |
摘要 |
本发明提出了一种增加分栅快闪存储器控制栅高度的方法,首先去除位于多晶硅表面的厚度不均匀的高压栅介质层,接着再多晶硅表面形成厚度较为均匀的介质层,使得后续刻蚀多晶硅时,多晶硅侧壁顶处附近的介质层能够不被刻蚀严重,从而能够对多晶硅侧壁进行保护,使形成的字线具有较高的凹陷高度,避免后续离子注入的穿透,提高器件性能。 |
申请公布号 |
CN105206580A |
申请公布日期 |
2015.12.30 |
申请号 |
CN201510491168.1 |
申请日期 |
2015.08.11 |
申请人 |
上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
陈宏;曹子贵;王卉;徐涛;魏代龙 |
分类号 |
H01L21/8247(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/8247(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
屈蘅 |
主权项 |
一种增加分栅快闪存储器控制栅高度的方法,其特征在于,包括步骤:提供基片,所述基片上形成有多晶硅层、高压栅介质层及图案化的光阻,所述高压栅介质层形成在所述多晶硅层表面,所述图案化的光阻形成在所述高压栅介质层表面;刻蚀去除位于多晶硅层顶部及侧壁的所述高压栅介质层;去除所述图案化的光阻;在所述多晶硅层的顶部及侧壁形成均匀的介质层;使用光刻刻蚀所述多晶硅层形成字线。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号 |