一种介质保护膜材料的外逸电子测试系统及方法

摘要

本发明一种介质保护膜材料的外逸电子测试方法，包括至少一个用于测试的循环周期T，所述的循环周期T包括如下依次连续进行的电压施加周期，1）激发周期T_s，2）等待周期T_w，3）测试周期T_R；检测并记录测试周期中被测等离子体显示屏中显示单元内由工作气体放电过程产生的光信号，同时得到产生光信号时扫描电极Y与维持电极X之间的测试电压之差V_D，由公式V_w＝V_f－V_D计算得出显示单元中的内部场电压V_w，根据V_w计算得到显示单元中外逸电子的数量，完成对介质保护膜材料外逸电子的一次测试。本发明一种用于实现所述测试方法的介质保护膜材料的外逸电子测试系统，包括驱动电路，光电倍增管，示波器，计算机，控制电路和电源电路。

主权项

一种介质保护膜材料的外逸电子测试方法，包括至少一个用于测试的循环周期T，其特征在于，所述的循环周期T包括如下依次连续进行的电压施加周期，1)激发周期T_s；在被测等离子体显示屏的维持电极X和扫描电极Y上交替施加至少包括一个放电周期T_c的激发电压，在一个放电周期T_c内工作气体至少完成一次放电过程；激发电压不小于被测等离子体显示屏内工作气体放电所需的着火电压V_f；2)等待周期T_w；在激发周期T_s结束后，将维持电极X和扫描电极Y上的施加电压置于等待电压上，等待电压小于被测等离子体显示屏内工作气体放电所需的着火电压V_f；等待时间不大于工作气体放电时产生的外逸电子的存在时间；3)测试周期T_R；在等待周期T_w结束后，在维持电极X和扫描电极Y上分别施加同步上升的测试电压，扫描电极Y与维持电极X之间的测试电压之差V_d逐渐增加且只产生一次工作气体放电过程；检测并记录被测等离子体显示屏中显示单元内由工作气体放电过程产生的光信号，同时得到产生光信号时扫描电极Y与维持电极X之间的测试电压之差V_D，由公式V_w＝V_f－V_D计算得出显示单元中的内部场电压V_w，根据V_w计算得到显示单元中外逸电子的数量，完成对介质保护膜材料外逸电子的一次测试。