发明名称 终点检测系统及其运行状态监测方法
摘要 本发明公开了一种终点检测系统及其运行状态监测方法,其中方法包括如下步骤:读取参照样本中的第一工艺信号曲线,并实时监测设置有终点检测系统的工艺机台进行工艺时的第二工艺信号曲线;比对第一工艺信号曲线和第二工艺信号曲线,判断终点检测系统运行状态;当终点检测系统运行状态正常时,控制工艺机台继续进行工艺;当终点检测系统运行状态异常时,控制工艺机台停止当前工艺。其通过实时监测到的第二工艺信号曲线与参照样本的第一工艺信号曲线进行对比,判断终点检测系统运行状态,有效解决了现有终点检测系统工作状态判断方法不能实时体现当前终点检测系统运行状态,导致对工艺机台状态的判断滞后或错误的问题,降低晶片工艺风险及废弃成本。
申请公布号 CN105206544A 申请公布日期 2015.12.30
申请号 CN201410231985.9 申请日期 2014.05.28
申请人 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 发明人 陈国动
分类号 H01L21/66(2006.01)I 主分类号 H01L21/66(2006.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 李芙蓉
主权项 一种终点检测系统运行状态监测方法,其特征在于,包括如下步骤:读取参照样本中的第一工艺信号曲线,并实时监测设置有终点检测系统的工艺机台进行工艺时的第二工艺信号曲线;比对所述第一工艺信号曲线和所述第二工艺信号曲线,判断所述终点检测系统运行状态;当所述终点检测系统运行状态正常时,控制所述工艺机台继续进行所述工艺;当所述终点检测系统运行状态异常时,控制所述工艺机台停止当前所述工艺。
地址 100176 北京市大兴区北京经济技术开发区文昌大道8号
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