发明名称 双管芯的Trench MOSFET及其加工方法
摘要 本发明提供双管芯的Trench MOSFET及其加工方法,其中双管芯的Trench MOSFET包括N+衬底层,N+衬底层上设置有N-外延层,N-外延层左上部设置有第一P-body层,N-外延层右上部设置有第二P-body层,第一P-body层和第二P-body层之间为连续的N-外延层,第一P-body层内第一Trench槽,第二P-body层内设置有第二Trench槽,第一Trench槽贯穿第一P-body层,第二Trench槽贯穿第二P-body层,第一Trench槽和第二Trench槽内设置有Poly结构。本发明将两个MOSFET各自独立的Ring结构合并为一个Ring结构,在不影响产品性能的前提下,达到减少单颗MOS的面积,增加单片有效管芯数,降低成本的优点。
申请公布号 CN105206606A 申请公布日期 2015.12.30
申请号 CN201510683582.2 申请日期 2015.10.20
申请人 福建省福芯电子科技有限公司 发明人 胡兴正;陈虞平;王熹伟;刘海波;孙晓儒
分类号 H01L27/02(2006.01)I;H01L27/088(2006.01)I;H01L21/8234(2006.01)I 主分类号 H01L27/02(2006.01)I
代理机构 福州市景弘专利代理事务所(普通合伙) 35219 代理人 林祥翔;吕元辉
主权项 一种双管芯的Trench MOSFET,其特征在于:包括N+衬底层,N+衬底层上设置有N‑外延层,N‑外延层左上部设置有第一P‑body层,N‑外延层右上部设置有第二P‑body层,第一P‑body层和第二P‑body层之间为连续的N‑外延层,第一P‑body层内第一Trench槽,第二P‑body层内设置有第二Trench槽,第一Trench槽贯穿第一P‑body层,第二Trench槽贯穿第二P‑body层,第一Trench槽和第二Trench槽内设置有Poly结构,第一Trench槽左侧的P‑body层的上部设置有第一Drain区,第二Trench槽右侧的P‑body层的上部设置有第二Drain区,P‑body层、第一Trench槽和第二Trench槽上设置有介质层,介质层上左右两侧分别设置有第一Metal层和第二Metal层,第一Metal层穿过介质层与第一Drain区连接,第二Metal层穿过介质层与第二Drain区连接,第一Metal层和第二Metal层之间设置有第三Metal层。
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