发明名称 |
双管芯的Trench MOSFET及其加工方法 |
摘要 |
本发明提供双管芯的Trench MOSFET及其加工方法,其中双管芯的Trench MOSFET包括N+衬底层,N+衬底层上设置有N-外延层,N-外延层左上部设置有第一P-body层,N-外延层右上部设置有第二P-body层,第一P-body层和第二P-body层之间为连续的N-外延层,第一P-body层内第一Trench槽,第二P-body层内设置有第二Trench槽,第一Trench槽贯穿第一P-body层,第二Trench槽贯穿第二P-body层,第一Trench槽和第二Trench槽内设置有Poly结构。本发明将两个MOSFET各自独立的Ring结构合并为一个Ring结构,在不影响产品性能的前提下,达到减少单颗MOS的面积,增加单片有效管芯数,降低成本的优点。 |
申请公布号 |
CN105206606A |
申请公布日期 |
2015.12.30 |
申请号 |
CN201510683582.2 |
申请日期 |
2015.10.20 |
申请人 |
福建省福芯电子科技有限公司 |
发明人 |
胡兴正;陈虞平;王熹伟;刘海波;孙晓儒 |
分类号 |
H01L27/02(2006.01)I;H01L27/088(2006.01)I;H01L21/8234(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/02(2006.01)I |
代理机构 |
福州市景弘专利代理事务所(普通合伙) 35219 |
代理人 |
林祥翔;吕元辉 |
主权项 |
一种双管芯的Trench MOSFET,其特征在于:包括N+衬底层,N+衬底层上设置有N‑外延层,N‑外延层左上部设置有第一P‑body层,N‑外延层右上部设置有第二P‑body层,第一P‑body层和第二P‑body层之间为连续的N‑外延层,第一P‑body层内第一Trench槽,第二P‑body层内设置有第二Trench槽,第一Trench槽贯穿第一P‑body层,第二Trench槽贯穿第二P‑body层,第一Trench槽和第二Trench槽内设置有Poly结构,第一Trench槽左侧的P‑body层的上部设置有第一Drain区,第二Trench槽右侧的P‑body层的上部设置有第二Drain区,P‑body层、第一Trench槽和第二Trench槽上设置有介质层,介质层上左右两侧分别设置有第一Metal层和第二Metal层,第一Metal层穿过介质层与第一Drain区连接,第二Metal层穿过介质层与第二Drain区连接,第一Metal层和第二Metal层之间设置有第三Metal层。 |
地址 |
350001 福建省福州市鼓楼区软件大道89号福州软件园F区1号楼28层102室 |