| 发明名称 | 一种OBU的微波性能测试装置 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开了一种OBU的微波性能测试装置，属于OBU生产测试设备领域。该装置包括信号源(1)、第一频谱仪(2)、以及分别与信号源(1)和第一频谱仪(2)连接的信号控制单元(3)，信号控制单元(3)上设有与待测试OBU连接的端口，还包括功分器(4)和第一合路器(5)，功分器(4)的输入端与信号源(1)的信号输出端连接，第一合路器(5)的输出端与第一频谱仪(2)的信号输入端连接，功分器(4)的输出端和第一合路器(5)的输入端分别与第一辐射天线(6)相连接,第一辐射天线(6)与待测试OBU通过微波辐射连接。采用该装置，能够大大提升OBU的微波性能的测试效率，降低测试成本。 | ||
| 申请公布号 | CN204928843U | 申请公布日期 | 2015.12.30 |
| 申请号 | CN201520669425.1 | 申请日期 | 2015.08.31 |
| 申请人 | 北京握奇智能科技有限公司 | 发明人 | 李振华 |
| 分类号 | H04B17/29(2015.01)I;H04B17/15(2015.01)I | 主分类号 | H04B17/29(2015.01)I |
| 代理机构 | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人 | 田明;张海秀 |
| 主权项 | 一种OBU的微波性能测试装置，包括信号源(1)、第一频谱仪(2)、以及分别与信号源(1)和第一频谱仪(2)连接的信号控制单元(3)，信号控制单元(3)上设有与待测试OBU连接的端口，其特征在于：还包括功分器(4)和第一合路器(5)，功分器(4)的输入端与信号源(1)的信号输出端连接，第一合路器(5)的输出端与第一频谱仪(2)的信号输入端连接，功分器(4)的输出端和第一合路器(5)的输入端分别与第一辐射天线(6)相连接,第一辐射天线(6)与待测试OBU通过微波辐射连接。 | ||
| 地址 | 100102 北京市朝阳区望京利泽中园101号启明国际大厦西侧八层 | ||