发明名称 混响室连续搅拌模式下提高电子设备辐射抗扰度测试可重复性的方法
摘要 本发明公开了一种混响室连续搅拌模式下提高电子设备辐射抗扰度测试可重复性的方法,其如下步骤:1、搭建试验平台;2、设定3~5个场强计的采样时间段,在受试设备辐射抗扰度测试中,场强计记录受试设备受到干扰时分别在3~5个采样时间段的电磁场值;3、分别对步骤2中3~5个时间段内采集到的电磁场值统计平均,对应得到3~5个统计平均值;4、分别计算步骤3中得到的3~5个统计平均值的标准偏差,选择出小于3dB的标准偏差所对应的采样时间段,采用小于3dB的标准偏差所对应的采样时间段进行混响室连续搅拌模式下提高电子设备辐射抗扰度测试。本发明的有益效果是能有效提高混响室连续搅拌模式下的电子设备辐射敏感度阈值。
申请公布号 CN104297595B 申请公布日期 2015.12.30
申请号 CN201410548515.5 申请日期 2014.10.16
申请人 中国人民解放军军械工程学院 发明人 王庆国;贾锐;曲兆明;程二威;姜林;官建国;雷忆三;范丽思;周星
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 石家庄新世纪专利商标事务所有限公司 13100 代理人 徐瑞丰;董金国
主权项 一种混响室连续搅拌模式下提高电子设备辐射抗扰度测试可重复性的方法,其特征在于:通过对采集的场强值计算标准偏差,经过比较得到采集场强值的采样时间段,在电子设备辐射抗扰度测试中使用所述采样时间段进行采样,其具体步骤如下:步骤1:搭建混响室连续工作模式下电磁辐射抗扰度试验平台:所述平台包括主控计算机(A)、混响室壳体(1)、混响室内部测试区域(2)、辐射发射分系统、受试设备分系统、检测和接收分系统以及机械控制分系统;所述主控计算机(A)位于混响室壳体 (1)外部;所述辐射发射分系统由信号发生器(C)、功率放大器(D)、定向耦合器(E)、功率计(F) 、发射天线(J)和光纤组成;所述主控计算机(A)的指令输出端接信号发生器(C)的信号输入端,所述信号发生器(C)的信号输出端依次通过光纤连接功率放大器(D)、定向耦合器(E)和发射天线(J),所述功率计(F)与定向耦合器(E)的监测端相连接,所述发射天线(J)位于混响室壳体(1)和混响室内部测试区域(2)之间,所述信号发生器(C)、功率放大器(D)、定向耦合器(E)和功率计(F)位于混响室壳体(1)外部;所述受试设备分系统位于混响室内部测试区域(2)的正中央,其包括受试设备和试验台(L);所述受试设备在试验开始前即置于试验台(L)上,且所述受试设备距混响室壳体(1)的距离大于1/4个测试频率波长;所述检测和接收分系统由场强计(K)、摄像头(M)、监控系统(G)组成;所述监控系统(G)为能抗高场强辐射的摄像头;所述主控计算机(A)的相应端口经光纤连接场强计(K)的信号端,所述主控计算机(A)的相应端口经监控系统(G)接摄像头(M)的信号端;所述场强计(K)和摄像头(M)位于混响室内部测试区域(2)内,所述监控系统(G)位于混响室壳体(1)外部;所述机械控制分系统包括控制电机(B)、主搅拌器(H)和副搅拌器(I);所述主控计算机(A)的输出控制端与控制电机(B)的输入控制端连接,所述控制电机(B)的输出控制端分别连接主搅拌器(H)和副搅拌器(I)的控制端;所述主搅拌器(H)和副搅拌器(I)位于混响室壳体(1)和混响室内部测试区域(2)之间,所述控制电机(B)位于混响室壳体(1)外部;步骤2:设定3~5个场强计(K)的采样时间段,在受试设备辐射抗扰度测试中,利用场强计(K)记录受试设备受到干扰时,分别在3~5个所述时间段内的电磁场值;步骤3:分别对步骤2中3~5个所述时间段内采集到的电磁场值进行统计平均,对应得到3~5个统计平均值;步骤4:分别计算步骤3中得到的3~5个所述统计平均值的标准偏差,并将3~5个所述统计平均值的标准偏差与3dB比较,选择出小于3dB的标准偏差所对应的采样时间段,采用所述小于3dB的标准偏差所对应的采样时间段进行混响室连续搅拌模式下提高电子设备辐射抗扰度测试。
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