发明名称 一种长码扩频测距信号相关损失测试方法
摘要 本发明公开了一种长码扩频测距信号相关损失测试方法,通过对扩频测距信号进行高速过采样,首先对采样数据进行短码扩频测距信号的载波频率和码相位捕获,然后完成短码扩频测距信号的载波初始相位值估计,根据长码与短码载波相位关系确定长码扩频测距信号载波初始相位值,对长码测距信号进行下变频和时延校正以及基带波形幅度归一化后,进行抽取和判决,在截取数据时段内再生长码序列,并生成本地长码样本点,用本地长码样本点重新对测距信号进行长码测距信号的载波相位估计,根据新的载波相位估计值,对采样的测距信号进行下变频和低通滤波,获取长码信号的基带波形数据,结合再生的长码数据样本计算长码扩频测距信号的相关损失。
申请公布号 CN105204037A 申请公布日期 2015.12.30
申请号 CN201510559502.2 申请日期 2015.09.06
申请人 北京空间飞行器总体设计部 发明人 崔小准;聂欣;毕少筠;李鹏;王璐;刘庆军;王健;陈忠贵
分类号 G01S19/23(2010.01)I 主分类号 G01S19/23(2010.01)I
代理机构 北京理工大学专利中心 11120 代理人 李微微;仇蕾安
主权项 一种长码扩频测距信号相关损失测试方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、通过码扩频测距信号进行高速过采样,得到扩频测距信号数据;步骤2、根据步骤1对扩频测距信号的采样频率f<sub>s</sub>和已知的短伪随机码结构,生成一个周期长度的本地短伪随机码样本数据<img file="FDA0000796122220000011.GIF" wi="102" he="85" />步骤3、截取步骤1中一个短伪随机码周期长度的扩频测距信号数据<img file="FDA0000796122220000012.GIF" wi="104" he="84" />步骤4、根据步骤3获得的扩频测距信号数据<img file="FDA0000796122220000013.GIF" wi="94" he="85" />再结合步骤2获得的本地短伪随机码样本数据<img file="FDA0000796122220000014.GIF" wi="99" he="105" />确定扩频测距信号的载波中心频率f<sub>C</sub>及本地短伪随机码样本数据<img file="FDA0000796122220000015.GIF" wi="74" he="86" />的起始样本点序号,将该起始样本点序号作为起点,在步骤1中的扩频测距信号数据中截取长度为1个短伪随机码周期的数据<img file="FDA0000796122220000016.GIF" wi="107" he="87" />再根据本地短伪随机码样本数据<img file="FDA0000796122220000017.GIF" wi="80" he="81" />和数据<img file="FDA0000796122220000018.GIF" wi="110" he="87" />采用相位同步方法,最终获得短码载波初始相位估计值<img file="FDA0000796122220000019.GIF" wi="100" he="62" />步骤5、基于长码载波相位与短码载波相位之间的关系,结合步骤4获得的短码载波初始相位估计值<img file="FDA00007961222200000110.GIF" wi="99" he="58" />确定长码载波初始相位值<img file="FDA00007961222200000111.GIF" wi="112" he="68" />步骤6、根据步骤5获得的长码载波初始相位值<img file="FDA00007961222200000112.GIF" wi="112" he="59" />步骤4获得的载波中心频率f<sub>C</sub>以及所述的采样频率f<sub>s</sub>,生成一个短伪随机码周期长度的载波数据样本c<sub>Q</sub>;步骤7、将步骤6获得的载波数据样本c<sub>Q</sub>与步骤3获得的数据<img file="FDA00007961222200000113.GIF" wi="68" he="84" />进行混频,得到数据<img file="FDA00007961222200000114.GIF" wi="100" he="84" />步骤8、对数据<img file="FDA00007961222200000115.GIF" wi="68" he="76" />进行抽取和判决,获得长码序列<img file="FDA00007961222200000116.GIF" wi="101" he="81" />步骤9、采用步骤4的方法,根据步骤8获得的长码序列<img file="FDA00007961222200000117.GIF" wi="63" he="75" />和步骤3获得的短码扩频测距信号数据<img file="FDA00007961222200000118.GIF" wi="99" he="103" />重新估计长码载波初始相位φ′<sub>M</sub>;步骤10、根据步骤9获得的长码载波初始相位φ′<sub>M</sub>、载波中心频率f<sub>C</sub>以及所述的采样频率f<sub>s</sub>,生成一个短伪随机码周期长度的载波数据样本,对其进行下变频处理后,再与本地短伪随机码样本数据<img file="FDA0000796122220000021.GIF" wi="72" he="80" />进行混频,得到长码信号的基带波形数据并进行幅度归一化处理,由此得到幅度归一化后基带波形数据<img file="FDA0000796122220000022.GIF" wi="75" he="74" />步骤11、先计算长伪随机码样本点<img file="FDA0000796122220000023.GIF" wi="63" he="75" />的自相关峰值P<sub>co</sub>,再计算长伪随机码样本点<img file="FDA0000796122220000024.GIF" wi="69" he="76" />与幅度归一化后基带波形数据<img file="FDA0000796122220000025.GIF" wi="48" he="74" />的互相关峰值P<sub>au</sub>,最后得到长伪随机码支路的相关损失:L<sub>c</sub>=10log<sub>10</sub>(P<sub>co</sub>/P<sub>au</sub>)。
地址 100094 北京市海淀区友谊路104号