一种基于嵌入式芯片的SerDes误码率检测方法及系统

摘要

本发明公开了一种基于嵌入式芯片的SerDes误码率检测方法，包括：向待测试嵌入式芯片的JTAG控制器发送控制信号；根据控制信号向测试信号单元发送写命令；根据写命令产生测试数据和对比数据；将对比数据与测试数据进行比较；存储测试数据与对比数据的比较结果；通过比较结果计算嵌入式芯片的SerDes误码率。其中，在测试之前将待测试嵌入式芯片的发送信号接口和接收信号接口连接；将JTAG调试接口与测试终端连接，以形成一个闭环的测试系统。本方法利用嵌入式芯片自带的JTAG调试接口和JTAG控制器来完成测试过程，不需要额外配置测试设备，节约成本，减少测试时间。此外，本发明还公开与该方法对应的系统。

主权项

一种基于嵌入式芯片的SerDes误码率检测方法，其特征在于，将待测试嵌入式芯片的发送信号接口和接收信号接口连接；将所述待测试嵌入式芯片的JTAG调试接口与测试终端连接；该方法包括：向所述待测试嵌入式芯片的JTAG控制器发送控制信号；根据所述控制信号向测试信号单元发送写命令；根据所述写命令产生测试数据和对比数据；将所述对比数据与所述测试数据进行比较；存储所述测试数据与所述对比数据的比较结果；通过所述比较结果计算所述嵌入式芯片的SerDes误码率；其中，通过所述发送信号接口和所述接收信号接口将所述测试数据返回以与所述对比数据进行比较。