发明名称 干式蚀刻装置及阵列基板干式蚀刻去除静电方法
摘要 本发明提供一种干式蚀刻装置,用于阵列基板的蚀刻,所述干式蚀刻装置包括机体、设于机体内的反应腔体、第一电极、第二电极及两个导接体,所述反应腔体包括顶壁及与顶壁相对设置的底壁,所述第一电极设于顶壁上,所述第二电极设于底壁上,所述两个导接体间隔设置且贯穿所述底壁及第二电极,所述导接体可相对所述反应腔体伸缩,所述导接体包括绝缘套及位于绝缘套内的导电体,所述导电体接地设置,本发明还公开了一种阵列基板干式蚀刻去除静电方法。
申请公布号 CN105206495A 申请公布日期 2015.12.30
申请号 CN201510504223.6 申请日期 2015.08.17
申请人 深圳市华星光电技术有限公司 发明人 刘思洋
分类号 H01J37/32(2006.01)I 主分类号 H01J37/32(2006.01)I
代理机构 广州三环专利代理有限公司 44202 代理人 郝传鑫;熊永强
主权项 一种干式蚀刻装置,用于阵列基板的蚀刻,其特征在于,所述干式蚀刻装置包括机体、设于机体内的反应腔体、第一电极、第二电极及两个导接体,所述反应腔体包括顶壁及与顶壁相对设置的底壁,所述第一电极设于顶壁上,所述第二电极设于底壁上,所述两个导接体间隔设置且贯穿所述底壁及第二电极,所述两个导接体间隔设置且贯穿所述底壁及第二电极,所述导接体可相对所述反应腔体伸缩,所述导接体包括绝缘套及位于绝缘套内的导电体,所述导电体接地设置。
地址 518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号
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