发明名称 |
干式蚀刻装置及阵列基板干式蚀刻去除静电方法 |
摘要 |
本发明提供一种干式蚀刻装置,用于阵列基板的蚀刻,所述干式蚀刻装置包括机体、设于机体内的反应腔体、第一电极、第二电极及两个导接体,所述反应腔体包括顶壁及与顶壁相对设置的底壁,所述第一电极设于顶壁上,所述第二电极设于底壁上,所述两个导接体间隔设置且贯穿所述底壁及第二电极,所述导接体可相对所述反应腔体伸缩,所述导接体包括绝缘套及位于绝缘套内的导电体,所述导电体接地设置,本发明还公开了一种阵列基板干式蚀刻去除静电方法。 |
申请公布号 |
CN105206495A |
申请公布日期 |
2015.12.30 |
申请号 |
CN201510504223.6 |
申请日期 |
2015.08.17 |
申请人 |
深圳市华星光电技术有限公司 |
发明人 |
刘思洋 |
分类号 |
H01J37/32(2006.01)I |
主分类号 |
H01J37/32(2006.01)I |
代理机构 |
广州三环专利代理有限公司 44202 |
代理人 |
郝传鑫;熊永强 |
主权项 |
一种干式蚀刻装置,用于阵列基板的蚀刻,其特征在于,所述干式蚀刻装置包括机体、设于机体内的反应腔体、第一电极、第二电极及两个导接体,所述反应腔体包括顶壁及与顶壁相对设置的底壁,所述第一电极设于顶壁上,所述第二电极设于底壁上,所述两个导接体间隔设置且贯穿所述底壁及第二电极,所述两个导接体间隔设置且贯穿所述底壁及第二电极,所述导接体可相对所述反应腔体伸缩,所述导接体包括绝缘套及位于绝缘套内的导电体,所述导电体接地设置。 |
地址 |
518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号 |