发明名称 |
一种利用金属材料扩散互溶实现硅-硅键合的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种利用金属材料扩散互溶实现硅-硅键合的方法,其原理是利用金属材料与硅扩散互溶形成金属硅化物,将硅片键合起来。其特点是工艺简单、键合强度高、气密性好、适用范围宽。其中键合方法包括:在第一硅片上制备薄膜层,在第二硅片上制备或不制备薄膜层,在一定温度和压力条件下将第一硅片1和第二硅片3进行热压键合。本发明利用金属材料与硅扩散互溶的原理实现硅-硅的有效键合,其中键合材料为薄膜,可以通过常规淀积工艺很容易得到,同时薄层金属的存在及良好的延展性使得对键合材料的表面平整度、表面粗糙度的要求大大降低。 |
申请公布号 |
CN105197881A |
申请公布日期 |
2015.12.30 |
申请号 |
CN201510541609.4 |
申请日期 |
2015.08.28 |
申请人 |
中国科学院半导体研究所 |
发明人 |
赵永梅;何志;季安;王晓峰;黄亚军;潘岭峰;樊中朝;王晓东;杨富华 |
分类号 |
B81C3/00(2006.01)I |
主分类号 |
B81C3/00(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
宋焰琴 |
主权项 |
一种利用金属材料扩散互溶实现硅‑硅键合的方法,包括如下步骤:步骤1:取一第一硅片;步骤2:采用电子束蒸发或磁控溅射的方法,在第一硅片上制备第一薄膜金属层;步骤3:取一第二硅片;步骤4:将第一硅片制备有第一薄膜金属层的一面与第二硅片进行热压键合,在温度和压力的作用下通过硅‑硅界面的金属扩散互溶形成金属硅化物作为键合层,将第一和第二硅片键合在一起;通过键合时腔室的气氛或真空度控制实现硅‑硅的预定气氛封装或真空封装。 |
地址 |
100083 北京市海淀区清华东路甲35号 |