| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Fehleranalyse einer Messeinrichtung (18), innerhalb derer sowohl über ein digitales Signal (13) als auch über ein analoges Signal (8) zwischen einem digitale Prozesswerte (4) erzeugenden Feldgerät (1) und einem Eingabe-/Ausgabe-Gerät (E/A-Gerät) (9) kommuniziert wird, wobei das analoge Signal (8) durch einen Digital-Analog-Wandler (DAC) (6) erzeugt und durch einen Analog-Digital-Wandler (ADC) (7) empfangen wird, die Fehleranalyse auf einem Vergleich digital und analog übermittelter Daten basierend, wobei in einem Integrationsschritt über eine Integrationsdauer hinweg die digitalen Prozesswerte (4) und gleichzeitig deren analog an das E/A-Gerät (9) übermittelte Prozesswertkopien (10) integriert werden, wonach in einem Vergleichsschritt ein auf dem Integral der Prozesswerte (4) basierendes Maß mit einem auf dem Integral der Prozesswertkopien (10) basierenden Maß verglichen wird. Ferner betrifft die Erfindung eine Messeinrichtung (18), mit der ein solches Verfahren durchführbar ist. |
