自测试集成电路

摘要

在示例中，自测试集成电路(IC)包括N个通道i和控制器，其中i是从1到N的整数。每一个通道i可以包括时钟和数据恢复电路(CDR)，伪随机比特流(PRBS)生成器电路，以及PRBS检查器和目视质量监视(EQM)电路。该控制器可以被配置成在自测试期间在菊花链中有选择地耦合通道i。

主权项

一种自测试集成电路(IC)的方法，所述集成电路包括N个通道i，其中i是从1到N的整数，该方法包括：在菊花链中有选择地耦合通道i；在通道1包含的第一CDR接收参考时钟信号；由第一CDR使用参考时钟信号来验证第一CDR的CDR功能；由通道1中包含的第一伪随机比特流(PRBS)生成器电路使用由第一CDR恢复的恢复时钟信号来产生PRBS信号1；由第一PRBS生成器电路将PRBS信号1输出到通道2的输入；以及对于范围从2到N的i：由每一个通道i使用从菊花链中的前一个通道i‑1接收的PRBS信号i‑1来验证通道i的至少一些功能以及前一个通道i‑1的至少一些功能；由每一个通道i的PRBS生成器使用从PRBS信号i‑1中恢复的恢复时钟来产生PRBS信号i；以及由每一个通道i的PRBS生成器将PRBS信号i输出到菊花链中的下一个通道i+1。