发明名称 基于SIW的二维波束扫描天线阵
摘要 本发明公开了一种基于SIW的二维波束扫描天线阵列,包括SIW缝隙天线、介质基板Ⅰ、介质基板Ⅱ等结构,与普通的二维波束扫描天线阵列相比,本发明通过改进二维波束扫描网络的逻辑框图,结合多组不同相移值的移相器的使用,使得在两个维度上均可以实现任意角度的波束扫描,每个波束的增益达到11dBi以上。此外,该结构采用LTCC工艺实现,利用LTCC的多层特性,将整体结构设计为多层的结构,层间通过缝隙进行能量的传输,有效地减小了整体结构的尺寸。
申请公布号 CN105186139A 申请公布日期 2015.12.23
申请号 CN201510640269.0 申请日期 2015.09.30
申请人 南京理工大学 发明人 车文荃;杨亚洋;杨琬琛;范冲
分类号 H01Q9/04(2006.01)I;H01Q21/24(2006.01)I 主分类号 H01Q9/04(2006.01)I
代理机构 南京理工大学专利中心 32203 代理人 马鲁晋
主权项 一种基于SIW的二维波束扫描天线阵,其特征在于,包括SIW缝隙天线[20]、介质基板Ⅰ[S1]、介质基板Ⅱ[S2]、介质基板Ⅲ[S3]、介质基板Ⅳ[S4]、介质基板Ⅴ[S5]、介质基板Ⅵ[S6]、金属层[M0]、金属层Ⅰ[M1]、金属层Ⅱ[M2]、金属层Ⅲ[M3]、金属层Ⅳ[M4]、金属层Ⅴ[M5]、金属层Ⅵ[M6]、两个Butler矩阵[21]和Butler矩阵控制网络[22],Butler矩阵控制网络[22]对上述两个Butler矩阵[21]进行控制;所述介质基板Ⅰ[S1]、介质基板Ⅱ[S2]、介质基板Ⅲ[S3]、介质基板Ⅳ[S4]、介质基板Ⅴ[S5]、介质基板Ⅵ[S6]从下至上依次叠加,介质基板Ⅰ[S1]的下方设置金属层[M0],介质基板Ⅰ[S1]和介质基板Ⅱ[S2]之间设置金属层Ⅰ[M1],介质基板Ⅱ[S2]和介质基板Ⅲ[S3]之间设置金属层Ⅱ[M2],介质基板Ⅲ[S3]和介质基板Ⅳ[S4]之间设置金属层Ⅲ[M3],介质基板Ⅳ[S4]和介质基板Ⅴ[S5]之间设置金属层Ⅳ[M4],介质基板Ⅴ[S5]和介质基板Ⅵ[S6]之间设置金属层Ⅴ[M5],介质基板Ⅵ[S6]的上表面设置金属层Ⅵ[M6];金属层Ⅰ[M1]上开有层间耦合缝隙Ⅰ[14],金属层Ⅱ[M2]上开有层间耦合缝隙Ⅱ[15],金属层Ⅲ[M3]上开有层间耦合缝隙Ⅲ[16],金属层Ⅳ[M4]上开有层间耦合缝隙Ⅳ[17],金属层Ⅴ[M5]上开有层间耦合缝隙Ⅴ[18];其中层间耦合缝隙Ⅰ[14]的结构为方形,层间耦合缝隙Ⅱ[15]、层间耦合缝隙Ⅲ[16]、层间耦合缝隙Ⅳ[17]和层间耦合缝隙Ⅴ[18]的结构为十字形;介质基板Ⅰ[S1]、介质基板Ⅱ[S2]的结构通过层间耦合缝隙Ⅰ[14]进行能量传输,介质基板Ⅱ[S2]和介质基板Ⅲ[S3]的结构通过层间耦合缝隙Ⅱ[15]进行能量传输,介质基板Ⅲ[S3]和介质基板Ⅳ[S4]的结构通过层间耦合缝隙Ⅲ[16]进行能量传输,介质基板Ⅳ[S4]和介质基板Ⅴ[S5]的结构通过层间耦合缝隙Ⅳ[17]进行能量传输,介质基板Ⅴ[S5]和介质基板Ⅵ[S6]的结构通过层间耦合缝隙Ⅴ[18]进行能量传输;介质基板Ⅵ[S6]上设置SIW缝隙天线[20],两个Butler矩阵关于天线阵的中心线对称设置,每个Butler矩阵均包括两个‑45°移相器、两个90°移相器、四个3dB定向耦合器和两个0dB定向耦合器,其中两个‑45°移相器和两个3dB定向耦合器位于介质基板Ⅱ[S2]上,一个0dB定向耦合器位于介质基板Ⅲ[S3]上,两个3dB定向耦合器位于介质基板Ⅳ[S4]上,一个0dB定向耦合器和两个90°移相器位于介质基板Ⅴ[S5]上;Butler矩阵控制网络[22]包括四个3dB定向耦合器和四个移相器,每个3dB定向耦合器均对应一个移相器,其中两个3dB定向耦合器和两个移相器位于介质基板Ⅱ[S2]上,另外两个3dB定向耦合器和另外两个移相器位于介质基板Ⅰ[S1]上。
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