发明名称 | 一种测试编带机的芯片探测装置 | ||
摘要 | 本发明公开了一种测试编带机的芯片探测装置,包括探测头夹具和驱动探测头夹具活动的驱动机构,探测头夹具包括两个主干臂,两个主干臂的中心位置铰接于一转轴,主干臂的端头均延伸出两个分枝臂,驱动机构包括一底座、固定至底座上减速电机以及与减速电机传动相连的丝杆组件,探测头夹具的两主干臂的转轴固连至丝杆组件的滑块,本发明的有益效果在于,本发明的有益效果在于,通过一对铰接的架状的主干臂结构,固定有四组弹性探测电极,相对的两组弹性探测电极为对称状态,一次可同时探测一对芯片,位置精确,通过轻微的角度调整,可以使另一方向的对称弹性探测电极探测另一对芯片,测试速度大大提升。 | ||
申请公布号 | CN105182217A | 申请公布日期 | 2015.12.23 |
申请号 | CN201510526301.2 | 申请日期 | 2015.08.25 |
申请人 | 东莞中之光电股份有限公司 | 发明人 | 张万功;尹梓伟 |
分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 | 广东莞信律师事务所 44332 | 代理人 | 曾秋梅 |
主权项 | 一种测试编带机的芯片探测装置,用于连接芯片与测试设备进行检测,其特征在于,包括探测头夹具和驱动探测头夹具活动的驱动机构,所述探测头夹具包括两个主干臂,两个主干臂的中心位置铰接于一转轴,两个主干臂的端头与所述转轴之间设有连接两个主杆的一拉簧,所述主干臂的端头延伸出两个分枝臂,所述两个主干臂共延伸出八个分枝臂,每个分枝臂设有与芯片触脚对应的弹性电极探针,所述驱动机构包括一底座、固定至底座上减速电机以及与减速电机传动相连的丝杆组件,所述丝杆组件的丝杆的两端通过轴承座固定至底座上,所述丝杆的一端通过联轴器与减速电机的动力输出轴连接,所述探测头夹具的两主干臂的转轴固连至丝杆组件的滑块,所述两主干臂之间设有一凸块,所述凸块固连至底座上,所述凸块位于所述丝杆的轴心线的同一直线上。 | ||
地址 | 523000 广东省东莞市松山湖新城大道3号 |