| 发明名称 | 用于检测和补偿晶体管失配的电路和方法 | ||
| 摘要 | 本公开涉及一种用于检测晶体管失配的电路(1)，包括：用于生成基准信号(Vin)的信号发生器(4)，以及包括至少一对p沟道和n沟道晶体管的放大电路(5)，所述放大电路受到变化因素的影响，所述变化因素还影响位于同一集成电路(10)上的功能电路(3)，所述变化因素致使所述晶体管具有不同的驱动强度，所述放大电路(5)被配置用于接收所述基准信号(Vin)以及用于提供代表所述晶体管的驱动强度中的所述差异的放大信号(Vout)，以及其中，所述信号发生器(4)被设计成比所述放大电路(5)对所述变化因素更不敏感。它还涉及用于检测和补偿晶体管失配的集成电路(10)和方法。 | ||
| 申请公布号 | CN105191138A | 申请公布日期 | 2015.12.23 |
| 申请号 | CN201480012820.0 | 申请日期 | 2014.03.05 |
| 申请人 | 非盈利IMEC荷兰 | 发明人 | M·阿舒埃;T·格梅克 |
| 分类号 | H03K19/003(2006.01)I;G05F3/20(2006.01)I;G11C5/14(2006.01)I | 主分类号 | H03K19/003(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 陈斌 |
| 主权项 | 一种用于检测晶体管失配的电路(1)，包括：‑用于生成基准信号(Vin)的信号发生器(4)，以及‑包括至少一对p沟道和n沟道晶体管的放大电路(5)，所述放大电路(5)受到变化因素的影响，所述变化因素还影响位于同一集成电路(10)上的功能电路(3)，所述变化因素致使所述晶体管具有不同的驱动强度，并且所述放大电路(5)被配置用于接收所述基准信号(Vin)以及用于提供代表所述晶体管的驱动强度中的所述差异的放大信号(Vout)，以及其中，所述信号发生器(4)被设计成比所述放大电路对所述变化因素更不敏感。 | ||
| 地址 | 荷兰埃因霍温 | ||