发明名称 | 一种二维波束锐化方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种二维波束锐化方法,包含以下步骤:获取整个实孔径雷达的和波束方向图的二维频域分布及差波束方向图的二维频域分布;对目标区域采用实孔径雷达进行成像,获得实孔径成像结果,即目标区域回波和通道信号的二维频域分布以及目标区域回波差通道信号的二维频域分布;采用波束锐化公式对实孔径成像结果进行二维波束锐化,获得实孔径成像结果的二维波束锐化结果。本发明主要是对雷达方向图函数以及回波信号进行处理,以获得高分辨的微波图像,能同时降低一维波束锐化方法对高信噪比的要求以及一维波束锐化方法只能对某一维进行波束锐化的缺陷,使得实孔径成像技术有更好的工程应用。 | ||
申请公布号 | CN105182332A | 申请公布日期 | 2015.12.23 |
申请号 | CN201510585929.X | 申请日期 | 2015.09.15 |
申请人 | 上海无线电设备研究所 | 发明人 | 胡鑫;黄勇;蔡昆;吉峰;邹波;江利中 |
分类号 | G01S13/89(2006.01)I | 主分类号 | G01S13/89(2006.01)I |
代理机构 | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人 | 张妍;张静洁 |
主权项 | 一种二维波束锐化方法,用于对实孔径雷达成像进行锐化,其特征在于,包含以下步骤:S1、获取整个实孔径雷达的和波束方向图的二维频域分布及差波束方向图的二维频域分布;S2、对目标区域采用实孔径雷达进行成像,获得实孔径成像结果,即目标区域回波和通道信号的二维频域分布以及目标区域回波差通道信号的二维频域分布;S3、采用波束锐化公式对实孔径成像结果进行二维波束锐化,获得实孔径成像结果的二维波束锐化结果。 | ||
地址 | 200090 上海市杨浦区黎平路203号 |