发明名称 集成电路功能测试装置
摘要 本实用新型公开了一种集成电路功能测试装置,包括壳体,所述壳体上安装有显示屏和控制按钮,所述的显示屏和控制按钮与安装在所述壳体内部的微控制器连接,所述微控制器分别与A/D转换芯片、地址译码器、总线电路连接;所述壳体上设有电源插口,所述电源插口与所述总线电路电连接,所述电源插口上插接有移动电源;本实用新型的优点在于:操作简单、测试准确、效率高,通过插槽进行插接实现供电,当需要卸下电源时,拔下来即可,使用方便,提高了工作效率。
申请公布号 CN204903574U 申请公布日期 2015.12.23
申请号 CN201520459183.3 申请日期 2015.07.01
申请人 北京泰码思测控技术有限公司 发明人 徐子昆
分类号 G01R1/04(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R1/04(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 集成电路功能测试装置,其特征在于:包括壳体,所述壳体上安装有显示屏和控制按钮,所述的显示屏和控制按钮与安装在所述壳体内部的微控制器连接,所述微控制器分别与A/D转换芯片、地址译码器、总线电路连接;所述壳体上设有电源插口,所述电源插口与所述总线电路电连接,所述电源插口上插接有移动电源。
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