发明名称 |
集成电路功能测试装置 |
摘要 |
本实用新型公开了一种集成电路功能测试装置,包括壳体,所述壳体上安装有显示屏和控制按钮,所述的显示屏和控制按钮与安装在所述壳体内部的微控制器连接,所述微控制器分别与A/D转换芯片、地址译码器、总线电路连接;所述壳体上设有电源插口,所述电源插口与所述总线电路电连接,所述电源插口上插接有移动电源;本实用新型的优点在于:操作简单、测试准确、效率高,通过插槽进行插接实现供电,当需要卸下电源时,拔下来即可,使用方便,提高了工作效率。 |
申请公布号 |
CN204903574U |
申请公布日期 |
2015.12.23 |
申请号 |
CN201520459183.3 |
申请日期 |
2015.07.01 |
申请人 |
北京泰码思测控技术有限公司 |
发明人 |
徐子昆 |
分类号 |
G01R1/04(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/04(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
集成电路功能测试装置,其特征在于:包括壳体,所述壳体上安装有显示屏和控制按钮,所述的显示屏和控制按钮与安装在所述壳体内部的微控制器连接,所述微控制器分别与A/D转换芯片、地址译码器、总线电路连接;所述壳体上设有电源插口,所述电源插口与所述总线电路电连接,所述电源插口上插接有移动电源。 |
地址 |
100098 北京市海淀区北三环西路甲30号219室 |