发明名称 Wide angle lens test device
摘要 <p>본 고안에 따른 광각렌즈 테스트 장치는 광각렌즈에서 빛이 방출되는 궤적에 맞추어 테스트 패턴층이 형성되므로 광각렌즈에서 투사되는 빛의 편향성을 최솨화 하면서 광각렌즈를 테스트할 수 있으며, 테스트 패턴층이 반구형 몸체 내주면을 따라 형성되므로, 테스트 장치를 소형으로 구현할 수 있다. 이를 위해 본 고안은 내측이 비어있는 반구 형상을 가지며, 일 측은 개구부를 형성하여 테스트 대상 렌즈를 향하는 하우징 및 하우징의 내주면을 따라 형성되는 테스트 패턴을 포함하며, 내주면은, 내측 곡면이 테스트 대상 렌즈에서 방출되는 빛의 궤적과 균일한 거리를 이루는 구면을 형성할 수 있다.</p>
申请公布号 KR20150004542(U) 申请公布日期 2015.12.22
申请号 KR20140004453U 申请日期 2014.06.12
申请人 주식회사 세코닉스 发明人 권락범;우인성
分类号 G01M11/02;G01N21/01;G01N21/84 主分类号 G01M11/02
代理机构 代理人
主权项
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