| 发明名称 | 用于测试射频元件的测试装置 | ||
| 摘要 | |||
| 申请公布号 | TWI513986 | 申请公布日期 | 2015.12.21 |
| 申请号 | TW103135334 | 申请日期 | 2014.10.13 |
| 申请人 | 矽品精密工业股份有限公司 | 发明人 | 张明治;林志育;邱志贤;蔡屺滨 |
| 分类号 | G01R31/00 | 主分类号 | G01R31/00 |
| 代理机构 | 代理人 | 陈昭诚 台北市中正区杭州南路1段15之1号9楼 | |
| 主权项 | 一种用于测试射频元件的测试装置，系包括：箱体，系具有容置空间；测试单元，系容置于该箱体之容置空间中，以于测试时，该测试单元与该射频元件同时位于该容置空间中，其中，该测试单元系能发射或接收射频(Radio frequency)讯号；以及控制单元，系电性连接该测试单元。 | ||
| 地址 | 台中市潭子区大丰路3段123号 | ||