发明名称 Verfahren zur Untersuchung eines Lichtquellenmoduls auf Defekte, Verfahren zur Herstellung eines Lichtquellenmoduls und Vorrichtung zur Untersuchung eines Lichtquellenmoduls
摘要 Verfahren zum Untersuchen eines Lichtquellenmoduls auf Defekte, umfassend das Vorbereiten eines Boards, auf dem eine lichtaussendende Vorrichtung und eine Linse, die die lichtaussendende Vorrichtung bedeckt, installiert sind. Ein Strom wird an die lichtaussendende Vorrichtung angelegt, um die lichtaussendende Vorrichtung einzuschalten. Die Linse wird mit der eingeschalteten lichtaussendenden Vorrichtung abgebildet. Eine Zentralsymmetrie, d. h. eine Symmetrie der Lichtaussendeverteilung vom Zentrum der Linse wird basierend auf dem erhaltenen Bild berechnet, und die berechnete Zentralsymmetrie wird mit einem Referenzwert verglichen, um zu ermitteln, ob eine unsymmetrische Lichtaussendeverteilung aufgetreten ist. Verschiedene andere Verfahren und Vorrichtungen zum Untersuchen von Lichtquellenmodulen werden außerdem offenbart.
申请公布号 DE102015100376(A1) 申请公布日期 2015.12.17
申请号 DE201510100376 申请日期 2015.01.13
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 JL, WON SOO;KWON, OH SEOK;PARK, DAE SEO;LEE, KA RAM
分类号 G01M11/02 主分类号 G01M11/02
代理机构 代理人
主权项
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