Optische Positionsmesseinrichtung

摘要

Die vorliegende Erfindung betrifft eine optische Positionsmesseinrichtung zur Erfassung der Relativposition einer ersten Maßverkörperung und einer zweiten Maßverkörperung, die relativ zueinander entlang mindestens einer Messrichtung beweglich angeordnet sind. An einem Aufspaltgitter erfolgt eine Aufspaltung eines von einer Lichtquelle emittierten Strahlenbündels in mindestens zwei Teilstrahlenbündel. Die Teilstrahlenbündel erfahren beim Durchlaufen von Abtaststrahlengängen unterschiedliche polarisationsoptische Wirkungen. Nach einer Wiedervereinigung der unterschiedlich polarisierten Teilstrahlenbündel an einem Vereinigungsgitter sind aus dem resultierenden Strahlenbündel mehrere phasenverschobene, verschiebungsabhängige Abtastsignale erzeugbar. In den Abtaststrahlengängen der Teilstrahlenbündel zwischen Aufspaltung und Wiedervereinigung sind keine polarisationsoptischen Bauelemente angeordnet. Zur Erzeugung der unterschiedlichen polarisationsoptischen Wirkungen auf die Teilstrahlenbündel beaufschlagt ein konisch einfallendes Beleuchtungsstrahlenbündel das Aufspaltgitter, wobei das einfallende Beleuchtungsstrahlenbündel in einer Ebene senkrecht zur Messrichtung unter einem von 0° verschiedenen Winkel verläuft und die Einfallsebene durch die Gitternormale auf das Aufspaltgitter und die Einfallsrichtung des Beleuchtungsstrahlenbündels aufgespannt ist. Die Abtaststrahlengänge der Teilstrahlenbündel zwischen Aufspaltung und Wiedervereinigung sind spiegelsymmetrisch zur Einfallsebene ausgebildet.