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Ein System zum Bestimmen der Effizienzdegradation einer organischen Leuchtvorrichtung (Organic Light Emitting Device, OLED) in einem Array-basierten Halbleiterbauelement, das ein Array von Pixeln aufweist, die OLEDs enthalten. Das System bestimmt die Beziehung zwischen Veränderungen eines elektrischen Betriebsparameters der OLEDs und der Effizienzdegradation der OLEDs für mindestens einen Belastungsbedingung; misst eine Veränderung des elektrischen Betriebsparameters der OLEDs; bestimmt die Belastungsbedingung mindestens eines Pixels oder einer Gruppe von Pixeln in dem Halbleiterbauelement; und verwendet die bestimmte Beziehung und die bestimmte Belastungsbedingung zum Bestimmen der Effizienzdegradation der OLEDs entsprechend der gemessenen Veränderung des elektrischen Betriebsparameters der OLEDs. |
