| 摘要 |
<p>Die vorliegende Erfindung betrifft ein System und ein Verfahren zur Distanzmessung. Dabei umfasst das System zur Distanzmessung - ein Mehrwellenlängenholographiemodul (100) zum Erfassen eines Holographiemessdatensatzes für zumindest einen Messpunkt auf Basis von zumindest einer synthetischen Wellenlänge, wobei das Mehrwellenlängenholographiemodul (100) aufweist: - zumindest zwei Holographielichtquellen (110, 112, 114, 116) zum Erzeugen von zumindest zwei kohärenten Holographielichtstrahlen mit unterschiedlichen Wellenlängen, - zumindest einen Strahlteiler (124, 160) zum Aufteilen jedes Holographielichtstrahls in einen Objektlichtstrahl (155) und einen Referenzlichtstrahl (135), und - zumindest ein Beugungselement (134, 138) zum dispersiven Verkippen der Referenzlichtstrahlen (135).</p> |
