| 摘要 |
<p>Verfahren zum Verifizieren von Testdaten für eine IC-Prüfvorrichtung (PS), aufweisend die Schritte:–Zuführen von digitalen Testmustern (TM) an eine zu testende Einrichtung (DUT) mittels einer digitalen Simulationseinrichtung (DS); wobei die digitalen Testmuster (TM) auch einer Stimulierungseinrichtung (BFM) zugeführt werden;–Generieren von elektrischen Testsignalen anhand von Testfällen (TC) mittels der Stimulierungseinrichtung (BFM); wobei die elektrischen Testsignale der zu testenden Einrichtung (DUT) nicht zugeführt werden; und Synchronisiertes Auswerten von Signalen der zu testenden Einrichtung (DUT) mittels der digitalen Testmuster (TM) und der Testfälle (TC).</p> |
