发明名称 激光头热特性的测量装置
摘要 一种激光头热特性测量装置,包括被测激光头、准直光源、起偏器、焦距可调扩束器、反射镜、二色分光镜、焦距可调缩束器、检偏器、衰减片、波前探测单元、锗物镜和热像仪。本发明简单易行、通用性强,可以匹配不同口径的激活介质,能同时适用于侧面泵浦以及端面泵浦固体激光器中热特性的测量,包括:温度分布、热致双折射退偏和热致波前畸变,测量精度高。
申请公布号 CN105157956A 申请公布日期 2015.12.16
申请号 CN201510638979.X 申请日期 2015.09.29
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 黄文发;李学春;王江峰;卢兴华;黄庭瑞;汪超
分类号 G01M11/02(2006.01)I;G01M11/00(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 张泽纯;张宁展
主权项 一种激光头热特性的测量装置,其特征在于,该装置包括:被测激光头(1)、探测光源(2)、起偏器(3)、焦距可调扩束器(4)、反射镜(4)、二色分光镜(6)、焦距可调缩束器(7)、检偏器(8)、衰减片(9)、波前探测单元(10)、锗物镜(12)和热像仪(13),沿所述的探测光源(2)的激光输出方向依次是所述的起偏器(3)、焦距可调扩束器(4)、反射镜(5)和二色分光镜(6),所述的反射镜(5)、二色分光镜(6)与所述的光路成45°,在所述的二色分光镜(6)的反射光方向依次是所述的焦距可调缩束器(7)、检偏器(8)、衰减片(9)和波前探测单元(10),在所述的二色分光镜(6)的透射方向依次是所述的锗物镜(12)和热像仪(13)。
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