发明名称 N型半导体层及N型薄膜电晶体的制备方法;METHOD OF MAKING N-TYPE SEMICONDUCTOR LAYER AND N-TYPE THIN FILM TRANSISTOR
摘要 一种N型半导体层的制备方法,包括以下步骤:提供一半导体奈米碳管层;通过原子层沈积方法在半导体层表面沈积一氧化铪层,该原子层沈积的方法具体包括:将半导体奈米碳管层置于原子层沈积系统反应腔的工作平台上,将工作平台加热至140-200摄氏度;向反应腔内持续通入一保护气体;在载气承载下分别以脉冲形式向反应腔内通入铪源与水蒸汽,在半导体奈米碳管层表面生成连续的氧化铪层,形成一N型半导体层,其中,含铪源的载气的一次脉冲时间为0.02s-0.03s,含水蒸汽的载气的一次脉冲时间为0.010s-0.015s。; depositing a hafnium oxide layer on a surface of the semiconductor layer by atomic layer deposition. The method of atomic layer deposition includes: placing the semiconductor carbon nanotube layer on a working platform of a atomic layer deposition system reactor; heating the working platform to attain 140°-200°; introducing a protective gas constantly; introducing hafnate and water vapor separately in pulse to the reactor by carrier gas, wherein a continuous hafnium oxide layer is formed on the surface of the semiconductor carbon nanotube layer. One pulse time of the carrier gas of hafnate is 0.02s-0.03s. One pulse time of the carrier gas of water vapor is 0.010s-0.015s.
申请公布号 TW201545967 申请公布日期 2015.12.16
申请号 TW103121113 申请日期 2014.06.18
申请人 鸿海精密工业股份有限公司 HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD. 发明人 金元浩 JIN, YUAN-HAO;李群庆 LI, QUN-QING;范守善 FAN, SHOU-SHAN
分类号 B82Y10/00(2011.01);B82Y40/00(2011.01);H01L21/336(2006.01) 主分类号 B82Y10/00(2011.01)
代理机构 代理人
主权项
地址 新北市土城区自由街2号 TW