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经营范围
发明名称
半导体积体电路的制造方法;METHOD OF FABRICATING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
摘要
一种半导体积体电路的制造方法被描述。沉积第一膜层于基板上。形成复数个心轴于第一膜层上。沿着心轴之侧壁形成复数个导引间隙壁。之后移除心轴。沉积中性层与嵌段共聚物层于第一膜层及导引间隙壁上。退火嵌段共聚物层,以形成第一高分子奈米结构介于导引间隙壁之间且被第二高分子奈米结构包围。第一高分子奈米结构与第一膜层保持相同之距离。选择性地蚀刻第二高分子奈米结构及中性层,以形成高分子奈米团块。使用高分子奈米团块及导引间隙壁作为蚀刻罩幕,以形成复数个开口于第一膜层中。经由开口蚀刻基板,以形成基板沟槽与基板鳍。
申请公布号
TW201546872
申请公布日期
2015.12.16
申请号
TW103146499
申请日期
2014.12.31
申请人
台湾积体电路制造股份有限公司 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD.
发明人
吴杰翰 WU, CHIEH HAN;李忠儒 LEE, CHUNG JU;包天一 BAO, TIEN I;陈琮瑜 CHEN, TSUNG YU;游信胜 YU, SHINN SHENG;林钰富 LIN, YU FU;陈政宏 CHEN, JENG HORNG
分类号
H01L21/02(2006.01);H01L21/306(2006.01);H01L21/311(2006.01);H01L21/324(2006.01);H01L21/8234(2006.01)
主分类号
H01L21/02(2006.01)
代理机构
代理人
洪澄文颜锦顺
主权项
地址
新竹市新竹科学工业园区力行六路8号 TW
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