一种探测不同深度介质的方法及电路

摘要

本发明涉及一种探测不同深度介质的方法及电路。该方法：首先，提供一传感器，该传感器由一组PCB铜箔构成，即由一大极板及两个小极板组成；其次，提供一可随着探测深度的变化而能够改变探测频率的深度探测信号Ftest，施加至所述步骤S01中传感器的大、小极板上，使得大、小极板之间形成电磁场；再而，提供一作用于大极板的自校准信号Fcal，以调整大、小极板的相位差，从而提高探测灵敏度；最后，对经深度探测信号Ftest驱动后的大、小极板输出的信号进行整形及相位比较，并对相位比较后的信号进行滤波后输出的信号进行处理，从而判断当前探测深度下的介质情况。本发明实现了不需额外增加运算放大器，即可实现不同深度介质的探测。

主权项

一种探测不同深度介质的方法，其特征在于：包括如下步骤，S01：提供一传感器，该传感器由一组PCB铜箔构成，即由一大片铜箔和两小片铜箔构成，其中，大片铜箔作为大极板，小片铜箔作为小极板；S02：提供一可随着探测深度的变化而能够改变探测频率的深度探测信号Ftest，施加至所述步骤S01中传感器的大、小极板上，使得大、小极板形成电磁场；S03：提供一作用于大极板的自校准信号Fcal，以调整大、小极板的相位差，从而提高探测灵敏度；S04：对经深度探测信号Ftest驱动后的大、小极板输出的信号进行整形及相位比较，并对相位比较后的信号进行滤波后输出的信号进行处理，从而判断当前探测深度下的介质情况。