| 发明名称 | 液晶材料金属元素检测方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开一种液晶材料金属元素检测方法，包括如下步骤：样品取样：将薄膜晶体管液晶显示屏面板裂片后，分别用刮刀刮取TFT基板侧和CF基板侧液晶，收集所述液晶用天平精确称重得到检测样品；样品前处理：采用溶剂稀释法，稀释所述检测样品8～12倍得到分析溶液；将所述分析溶液送入电感耦合等离子质谱仪中进行液晶材料金属元素检测，采用外标法定量。本发明的液晶材料金属元素检测方法可以快速、准确地分析液晶中金属元素浓度。 | ||
| 申请公布号 | CN105158323A | 申请公布日期 | 2015.12.16 |
| 申请号 | CN201510449649.6 | 申请日期 | 2015.07.28 |
| 申请人 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 发明人 | 张维维;徐蕊 |
| 分类号 | G01N27/62(2006.01)I;G01N1/04(2006.01)I;G01N1/38(2006.01)I | 主分类号 | G01N27/62(2006.01)I |
| 代理机构 | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人 | 郝传鑫;熊永强 |
| 主权项 | 一种液晶材料金属元素检测方法，其特征在于，包括如下步骤：样品取样：将薄膜晶体管液晶显示屏面板裂片后，分别刮取TFT基板侧和CF基板侧液晶，收集所述液晶精确称重得到检测样品；样品前处理：采用溶剂稀释法，稀释所述检测样品8～12倍得到分析溶液；将所述分析溶液送入电感耦合等离子质谱仪中进行液晶材料金属元素检测，采用外标法定量。 | ||
| 地址 | 518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号 | ||