PROCEDIMIENTO HETERODINO PARA LA REALIZACION DE MEDICIONES DE TEMPERATURA.

摘要

Procedimiento heterodino para la realización de mediciones de temperatura. Procedimiento para la observación de la amplitud y fase de componentes espectrales del aumento de temperatura en regiones (3) de un circuito integrado (5) provocado por el funcionamiento de un circuito o dispositivo (2) ubicado en el cristal semiconductor (1). Dicho circuito o dispositivo (2) se activa con una señal eléctrica (4) que contiene la suma de dos funciones sinusoidales de frecuencias f1 y f2. La frecuencia de la componente espectral de la temperatura medida es F=f2-f1.