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发明名称
Verfahren zur Konstruktion einer Prüfmatrix für einen Low-Density Parity-Check Kode
摘要
申请公布号
DE602006011101(D1)
申请公布日期
2010.01.28
申请号
DE200660011101T
申请日期
2006.10.17
申请人
SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;KOREA ADVANCED INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY (KAIST)
发明人
KIM, DONG-HO;LEE, YE-HOON;YOU, CHEOL-WOO;KIM;PARK, HYUN-CHEOL
分类号
H03M13/11
主分类号
H03M13/11
代理机构
代理人
主权项
地址
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