测试制具

摘要

本实用新型提出一种测试制具，适于与配置在主板上的PCIE插槽电性连接。所述测试制具包括载板、多个电阻、切换单元与二连接器。所述载板具有金手指，以插入所述PCIE插槽。所述电阻配置于所述载板上，并电性连接所述金手指。所述切换单元配置于所述载板上，并电性连接多个电阻。二连接器配置于所述载板上，并透过所述切换单元电性连接所述电阻的其中之二。藉此，可以避免外加噪声引起对信号品质的错误判断，还可以提高信号测试效率以及减少对主板的损害。

主权项

1.一种测试制具，适于与配置在一主板上的一PCIE插槽电性连接，其特征在于，所述测试制具包括：一载板，具有一金手指，以插入所述PCIE插槽；多个电阻，配置于所述载板上，并电性连接所述金手指；一切换单元，配置于所述载板上，并电性连接多个电阻；以及两个连接器，配置于所述载板上，并透过所述切换单元的切换，而电性连接所述电阻的其中之二。