发明名称 自测试结构和测试数字接口的方法
摘要 一种数字接口(22)包括自测试结构(56)。该结构(56)包括发射部(52)和具有相关器(68)的接收部(36)。测试该接口(22)的方法(114)包括:将接收部(36)与发射部(52)耦合,以及以高数据速率将测试数据结构(86)从发射部(52)传递到接收部(36)。测试数据结构(86)包括预先定义的同步码型(88)、报头(90)和有效载荷(92)。接收部(36)检测该同步码型(88)并且在相关器(68)处执行时间帧同步(148)。当同步(148)成功时,接收部(36)解码(154、162)报头(90)和有效载荷(92)。如果时间帧同步(148)和解码(154、162)成功,则以低数据速率输出验证指示符(100)用于外部观察。
申请公布号 CN101636922A 申请公布日期 2010.01.27
申请号 CN200880008799.1 申请日期 2008.01.24
申请人 飞思卡尔半导体公司 发明人 L·B·鲁斯;P·凯勒赫尔;D·麦克斯文尼
分类号 H04B1/38(2006.01)I;H04B1/48(2006.01)I 主分类号 H04B1/38(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 刘 倜
主权项 1.一种测试具有发射部和接收部的数字接口的方法,所述接收部包括相关器,并且所述方法包括:将所述发射部的输出与所述接收部的输入耦合;将测试数据结构从所述发射部传递到所述接收部;在所述相关器处检测所述测试数据结构;在所述接收部处解码所述测试数据结构;和当所述测试数据结构被成功解码时,产生至少一个验证指示符用于所述数字接口外部的观察,所述验证指示符指示所述数字接口正确运行。
地址 美国得克萨斯