一种确认探针与晶片接触状态的机构

摘要

本实用新型涉及一种电子元器件的检测机构，尤其是涉及一种确认探针与晶片接触状态的机构。其主要是解决现有技术所存在的晶片很小、探针很细，无法判断探针与晶片电极是否接触良好等的技术问题。本实用新型包括金属片(1)，其特征在于所述的金属片(1)与电子元器件晶圆上的晶片大小一致，金属片(1)上方设有可接触金属片的探针(2)，探针为2根及以上根，金属片(1)的面积大于探针的分布区域，探针通过线路连接欧姆表(3)、蜂鸣器(4)与发光装置(5)的至少其中一个，蜂鸣器(4)、发光装置(5)连接有电源(6)。

主权项

1.一种确认探针与晶片接触状态的机构，包括金属片(1)，其特征在于所述的金属片(1)与电子元器件晶圆上的晶片大小一致，金属片(1)上方设有可接触金属片的探针(2)，探针为2根及以上根，金属片(1)的面积大于探针的分布区域，探针通过线路连接欧姆表(3)、蜂鸣器(4)与发光装置(5)的至少其中一个，蜂鸣器(4)、发光装置(5)连接有电源(6)。