发明名称 从硼膜制备立方氮化硼薄膜的方法
摘要 本发明涉及从硼膜制备立方氮化硼薄膜的方法。属于宽带隙半导体或者超硬材料薄膜制备领域。立方氮化硼薄膜为氮化硼中最难直接制备的材料,始终制约着立方氮化硼薄膜从实验室走向工业化的进程。本发明第一步:将衬底进行清洗之后,在所选的衬底材料上沉积一层硼薄膜;第二步:对硼薄膜在氮气气氛中进行加热,使硼膜和氮气反应,生成立方相氮化硼薄膜,加热温度为850~1100℃;反应时间为30~150分钟。本发明制备的立方氮化硼薄膜中立方相含量(立方相的体积分数)大于90%。
申请公布号 CN101597759A 申请公布日期 2009.12.09
申请号 CN200910088909.6 申请日期 2009.07.13
申请人 北京工业大学 发明人 邓金祥;郭清秀;杨冰;赵卫平
分类号 C23C28/04(2006.01)I;C30B29/38(2006.01)I;C01B21/064(2006.01)I 主分类号 C23C28/04(2006.01)I
代理机构 北京思海天达知识产权代理有限公司 代理人 刘 萍
主权项 1.从硼膜制备立方氮化硼薄膜的方法,其特征在于:第一步:将衬底进行清洗之后,在衬底材料上沉积一层硼薄膜;第二步:硼薄膜在氮气气氛中进行加热,使薄硼膜和氮气反应,生成立方相氮化硼薄膜,加热温度为850~1100℃;反应时间为30~150分钟。
地址 100124北京市朝阳区平乐园100号