发明名称 |
用于晶片频率腐蚀的设备 |
摘要 |
本实用新型涉及的是一种用于晶片频率腐蚀的设备,其结构在框内设有腐蚀槽,腐蚀槽紧邻三道清洗槽,三道清洗槽和腐蚀槽间用隔板隔开,三道清洗槽间有隔板,三道清洗槽的底部相通;三道清洗槽和腐蚀槽内各有一根传动杆,传动杆上有腐蚀槽振动架,盛放晶片篮放在该振动架上;所述的腐蚀槽外围有一放水隔层。所述的三道清洗槽中的二个隔板间的高度是不同的。所述的腐蚀槽和清洗槽的上方有一个共同的抽风装置。优点:由自动腐蚀晶片是原加工产量的8倍;腐蚀用计算机档案进行频率管控,减少人为因素;腐蚀和清洗能同时进行,从而减少人力也提高了效率。 |
申请公布号 |
CN201358323Y |
申请公布日期 |
2009.12.09 |
申请号 |
CN200920036170.X |
申请日期 |
2009.03.11 |
申请人 |
南京德研电子有限公司 |
发明人 |
王玉香;肖玉森 |
分类号 |
C30B33/10(2006.01)I |
主分类号 |
C30B33/10(2006.01)I |
代理机构 |
南京君陶专利商标代理有限公司 |
代理人 |
沈根水 |
主权项 |
1、用于晶片频率腐蚀的设备,其特征是在框内设有腐蚀槽,腐蚀槽紧邻三道清洗槽,三道清洗槽和腐蚀槽间用隔板隔开,三道清洗槽间有隔板,三道清洗槽的底部相通;三道清洗槽和腐蚀槽内各有一根传动杆,传动杆上有腐蚀槽振动架,盛放晶片篮放在该振动架上;所述的腐蚀槽外围有一放水隔层。 |
地址 |
210031江苏省南京市高新技术开发区小柳工业园柳州北路22号 |