发明名称 |
晶片测试载架 |
摘要 |
一种晶片测试载架,至少包含有一基座,一基架及一上盖;该基座处开设一空间,且该空间侧边至少设有一定位凹槽;该基架套于所述基座处开设空间的侧边,且该基架的侧边至少设有一定位凸槽,以衔接于所述的定位凹槽,该基架底部至少一侧边向处延伸一基板;且上盖盖合于该基座的上端;因此,由于基架底部侧边所延伸的基板的程度不同,因而可以载架不同大小尺寸的测试晶片,同时,还依常用测试晶片的尺寸大小不同,设计数个相同基架,而每一基架给予不同程度的延伸的基板,以利晶片测试载架结构方便替换,达到了待测晶片的每一接脚可以轻易由此软性且导电的接触面板,电性连接于接触面板下的测试电路板的每一接脚的效果。 |
申请公布号 |
CN201359612Y |
申请公布日期 |
2009.12.09 |
申请号 |
CN200920104868.0 |
申请日期 |
2009.01.09 |
申请人 |
江阴市爱多光伏科技有限公司 |
发明人 |
胡德良;薛毓虎;周云青;张正栋 |
分类号 |
G01R1/02(2006.01)I;G01R31/26(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京路浩知识产权代理有限公司 |
代理人 |
张春和 |
主权项 |
1、一种晶片测试载架,其特征在于:它包含有一基座(203),该基座(203)中央处开设一空间(208),且该空间(208)侧边(209)至少设有一定位凹槽(210);一基架(204),其套于所述基座(203)中央处开设的空间(208)的侧边(209),且该基架(204)的侧边(211)至少设有一定位凸槽(212),衔接于所述的定位凹槽(210),该基架(204)底部至少一侧边向中央处延伸一基板(213);以及一上盖(206),盖合于该基座(203)的上端。 |
地址 |
214400江苏省江阴市周庄镇周北工业集中区(宗言村) |