一种内存性能的生产测试方法

摘要

本发明公开了一种内存性能的生产测试方法，其包括以下步骤：至少包括下列任意一种性能测试方法：测试内存在带CACHE大面积写入后读取的稳定性；测试内存在带CACHE随机地址大跨度跳跃读写时的稳定性。本发明方法所采用的测试方法与业界常用的内存压力测试(RAM Stress Test)方式相比，能节省测试时间，提高测试效率，而且更适用于生产测试；而与生产测试中常用的功能测试方法相比，则能弥补其对内存性能(内存颗粒的稳定性)测试方面的不足。

主权项

1、一种内存性能的生产测试方法，该方法至少包括第一种性能测试方法和第二种性能测试方法中的任意一种：其中，第一种性能测试方法包括步骤A1-E1：A1、用带Cache的方式申请最大的内存空间；B1、向申请到的所有内存空间一次性写入测试数据，写入测试数据时应该保证各地址间的测试数据各不相同；C1、逐个读出各地址内的数据，与写入的相应测试数据进行比较，如果不一致则中止测试并报告故障信息；D1、重复步骤B1→C1的操作直至达到设定的重复测试次数；E1、测试完后释放所申请的内存空间；第二种性能测试方法包括步骤A2-G2：A2、用带Cache的方式申请最大的内存空间；B2、定义一个指针数组；C2、依次给指针数组中的各指针赋值，使得各指针随机指向所述步骤A2中申请到的地址空间内的任意地址值，直至数组中的所有指针地址均赋值完毕；D2、依次向各指针所指向的内存地址中写入随机的测试数据；E2、依次读出各指针所指向的内存地址中的实际数据，与写入的测试数据进行比较，如果不一致则中止测试并报告故障信息；F2、重复步骤C2→E2的操作直至达到设定的重复测试次数；G2、测试完后释放所申请的内存空间。