| 发明名称 | 用于记录介质缺陷管理的方法和驱动器 | ||
| 摘要 | 一种用于记录介质缺陷管理的方法和驱动器，以及一种缺陷管理记录介质。该缺陷管理方法包括：当TDMS的更新开始时写入指定临时缺陷管理结构(TDMS)的更新周期被打开的第一状态信息，TDMS包含关于临时缺陷管理的信息；当数据被写入信息存储介质或从信息存储介质中被读取时更新TDMS；和当TDMS的更新完成时写入指定TDMS的更新周期被关闭的第二状态信息。 | ||
| 申请公布号 | CN100562929C | 申请公布日期 | 2009.11.25 |
| 申请号 | CN200480001804.8 | 申请日期 | 2004.04.22 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 黄盛凞;高祯完 |
| 分类号 | G11B7/0045(2006.01)I | 主分类号 | G11B7/0045(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人 | 郭鸿禧;韩素云 |
| 主权项 | 1、一种用于信息存储介质的缺陷管理方法，包括：将指定信息存储介质的临时缺陷管理结构(TDMS)的更新周期打开的第一状态信息写入信息存储介质，TDMS包含关于临时缺陷管理的信息；和当TDMS的更新完成时，将指定TDMS的更新周期关闭的第二状态信息写入信息存储介质。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||