发明名称 利用容性引线框传感检测开路缺陷的装置和方法
摘要 本发明提供了利用容性引线框传感检测开路缺陷的装置和方法。根据本发明的一个方面,提供了一种用于检测形成于电子器件的引脚和安装该电子器件的电路组件之间的节点处的开路缺陷的装置,该装置包括:AC源,其向所述节点中当前被测的节点施加AC信号:以及传感板,其根据所述器件的布局而被划分成区块,使得对于每个所述节点有一个区块与之相对应。检测器测量与所述被测节点相对应的区块处由于所述被测节点和所述对应区块之间的容性耦合而产生的信号,并且基于所述测量的结果来判断在所述被测节点处是否存在开路缺陷。
申请公布号 CN101458288A 申请公布日期 2009.06.17
申请号 CN200710198635.7 申请日期 2007.12.11
申请人 安捷伦科技有限公司 发明人 艾尔弗雷德·保利德尔
分类号 G01R31/02(2006.01)I 主分类号 G01R31/02(2006.01)I
代理机构 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 代理人 王 怡
主权项 1. 一种用于检测形成于电子器件的引脚和安装该电子器件的电路组件之间的节点处的开路缺陷的装置,该装置包括:交流源,其向所述节点中当前被测的节点施加交流信号;传感板,其根据所述器件的布局而被划分成区块,使得对于每个所述节点有一个区块与之相对应;以及检测器,其测量与所述被测节点相对应的区块处由于所述被测节点和所述对应区块之间的容性耦合而产生的信号,并且基于所述测量的结果来判断在所述被测节点处是否存在开路缺陷。
地址 美国加利福尼亚州