用于嵌入式设备开发调试的通用接口设备

摘要

本发明提供一种用于嵌入式设备开发调试的通用接口设备，主要克服现有开发调试接口类型结构差异性大的缺点，在嵌入式设备开发中，一般都采用JTAG(JOINT TEST ACTION GROUP)作为调试接口，但是由于嵌入式设备的差异性，导致了JTAG调试接口的巨大差异，使得以前开发的接口设备无法重复使用，造成重大的资源浪费，也给开发人员带来不便。同时由于嵌入式设备一般比较小，本发明针对这种情况还可以更换不同密度的探针板作为一种灵活的选择。本发明通过对大多数设备的通用性进行提炼和总结，提出一种简单方便，切实可行，功能强大的解决方法，提高了设备的重复使用率，明显节约开发成本。

主权项

1、一种用于嵌入式设备开发调试的通用接口设备，包括：设备控制和配置接口(1)、活动升降支架(2)、控制芯片(3)、供电电源接口(4)、JTAG调试接口(5)、调试探针板(6)、调试板(7)、底座固定台(8)以及复位按键(9)，其特征在于，通过供电电源接口(4)为控制芯片(3)提供工作电压，通过设备控制和配置接口(1)对设备进行控制和配置，使得调试探针板(6)中的必要部分生效，所述调试探针板(6)被压下后与固定在底座台(8)上的调试板(7)上的触点连接，就可以通过JTAG调试接口(5)进行调试，通过开机键(9)对调试对象加电。