芯片测试系统及方法

摘要

本发明公开了一种芯片测试系统，一台计算机通过USB接口同多个读卡器通讯，读卡器用于插入待测芯片，所述计算机能通过读卡器向待测芯片写入、激活测试代码并询问测试结果。本发明还公开了一种芯片测试方法，将多个读卡器通过USB接口连接到一台计算机；将待测芯片插入读卡器；计算机通过读卡器给待测芯片写入测试代码，为待测芯片上电，依次激活各个待测芯片的测试代码，等待一段时间，询问待测芯片是否完成测试，如完成继续询问测试结果，如未完成等待一段时间再次询问，最终计算机获得测试结果。本发明的芯片测试系统及方法能并行测试多个芯片，提高测试效率。

主权项

1、一种芯片测试系统，包括计算机、多个读卡器，待测芯片有存储器并能执行存储器中的程序，其特征在于，一台计算机通过USB接口同多个读卡器通讯，读卡器用于插入待测芯片，所述计算机能通过读卡器向待测芯片写入、激活测试代码并询问测试结果。