发明名称 Event-Driven Time-Interval Measurement
摘要 An apparatus including a circuit configured to measure timing between features in a first signal only referring to timing information contained in the signal itself.
申请公布号 US2009072812(A1) 申请公布日期 2009.03.19
申请号 US20070855415 申请日期 2007.09.14
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 HENZLER STEPHAN;SCHOBINGER MATTHIAS
分类号 G01R13/02 主分类号 G01R13/02
代理机构 代理人
主权项
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