发明名称 触点结构及制造方法,薄膜晶体管阵列面板及制造方法
摘要 在衬底上形成栅极线。依次淀积栅极绝缘层,本征a-Si层,非本征a-Si层,Cr构成的下膜,和含Al金属构成的上膜。在上膜上形成光刻胶,光刻胶在布线区域上具有较厚的第一部分,在沟道区域上具有较薄的第二部分。湿蚀刻在其余区域上的上膜,与光刻胶的第二部分一起干蚀刻其余区域上的下膜和a-Si层。除去沟道区域上的上膜、下膜、和非本征a-Si层。用湿蚀刻除去沟道区域上的上膜和下膜,除去沟道区域上的上膜后,再除去光刻胶的第一部分。
申请公布号 CN100465704C 申请公布日期 2009.03.04
申请号 CN03164805.3 申请日期 2003.09.02
申请人 三星电子株式会社 发明人 白范基;崔权永;李荣埈;姜奉周;林承泽;孔香植;金垣炷
分类号 G02F1/133(2006.01);H01L21/00(2006.01);H01L29/786(2006.01);H01L21/336(2006.01);G03F7/00(2006.01) 主分类号 G02F1/133(2006.01)
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 李晓舒;魏晓刚
主权项 1.一种制造薄膜晶体管阵列面板的方法,包括以下步骤:在绝缘衬底上形成栅极导电层;形成栅极绝缘层;形成包括本征膜和非本征膜的半导体层;形成包括数据线和漏电极的数据导电层;在至少一部分栅极导电层和数据导电层上形成具有接触孔的保护层;以及形成通过接触孔连接到至少一部分栅极导电层、数据导电层和衬底上的IZO导电层,其中,栅极导电层和数据导电层的至少一种包括可干蚀刻的下膜和由Al或Al合金制成的上膜,其中上膜的边缘位于下膜的边缘的内侧,其中,所述接触孔暴露下膜的边缘以及与下膜的边缘相邻的衬底,且其中,数据导电层和半导体层的形成是通过用单一光刻胶蚀刻而进行的,且光刻胶包括:位于布线区域上的第一厚度的第一部分,位于沟道区域上且具有比第一厚度小的第二厚度的第二部分,以及位于其余区域上并比第二部分薄的第三部分。。
地址 韩国京畿道
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