| 发明名称 | 基于散射检测的X射线检查 | ||
| 摘要 | 公开利用贯穿辐射的扫描束来检查对象的系统和方法。在后向或前向方向上检测来自束的散射辐射。将反向散射辐射的特性值与预期基准值进行比较来示出对象的特性。此外，可以将透射通过受检对象的贯穿辐射与散射信息组合。在某些实施例中，检查的视野小于0.1立体弧度，以及检测器与贯穿辐射源分开且相对于对象布置检测器，以便在对象的视野中对向大于0.5立体弧度。 | ||
| 申请公布号 | CN101379415A | 申请公布日期 | 2009.03.04 |
| 申请号 | CN200680039624.8 | 申请日期 | 2006.10.23 |
| 申请人 | 美国科技工程公司 | 发明人 | 彼得·罗思柴尔德;杰弗里·舒伯特;威廉·J·保库斯;威廉·韦德·小萨普;理查德·许勒尔;约瑟夫·卡勒拉穆;威廉·兰德尔·卡森 |
| 分类号 | G01V5/00(2006.01) | 主分类号 | G01V5/00(2006.01) |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 钟强;夏凯 |
| 主权项 | 1.一种用于检查目标对象的方法，包括：利用贯穿辐射的准直束来照射所述目标对象；检测来自所述束的反向散射辐射；基于对于所述目标的部分的参考，得到预期的基准值；将所述反向散射辐射的特性值与所述预期基准值进行比较；以及基于所述比较来确定描述性的类别，所述描述性的类别示出所述对象的特性。 | ||
| 地址 | 美国马萨诸塞州 | ||